中國計量網(wǎng) http://www.elfin-engr.com/
中國計量網(wǎng)——計量行業(yè)門戶網(wǎng)站
計量資訊速遞
您當前的位置: 首頁 > 新聞 > 科研動態(tài)

中國計量院5項科技成果喜獲2011年度 CAIA獎

發(fā)布時間:2011-11-02 作者: 來源: 瀏覽:321477

     日前,2011年度中國分析測試協(xié)會科學技術獎(CAIA獎)揭曉,中國計量科學研究院5項科技成果榜上有名,其中包括一等獎1項,二等獎1項,三等獎3項。
      在獲獎的5項成果中,“分析測試用農殘級有機溶劑純化制備與檢測核心關鍵技術研究”榮獲一等獎;“與國際等效的Si上SiO2超薄層厚度精確測量XPS方法”榮獲二等獎;“19類38種食品二氧化碳計量標準物質及檢測技術的研究”,“蓖麻毒蛋白和茶堿的高靈敏檢測技術及準確定量方法研究”,“人血清中肌酐高準確度測量方法、標準物質研究及國際關鍵比對”3項成果榮獲三等獎。
      其中,獲得一等獎的“分析測試用農殘級有機溶劑純化制備與檢測核心關鍵技術研究”是中國計量院承擔的國家科技部重大科技支撐計劃項目研究成果。該項目組攻克了14項科研用高純有機溶劑制備與檢測的共性關鍵技術,自主研發(fā)了甲醇、乙腈、正己烷、丙酮、乙酸乙酯、乙醇等色譜級、農殘級與光譜級高純有機溶劑并大部分實現(xiàn)產業(yè)化。與國際同類產品相比,這些具有自主知識產權的技術和試劑產品,技術指標相當,但生產成本和價格明顯降低,打破了我國高純有機試劑長期依賴進口的局面,降低了對國外的技術依存,將在我國食品安全、環(huán)境保護、生命科學、生物安全等眾多領域發(fā)揮基礎支撐作用。
      榮獲二等獎的“與國際等效的Si上SiO2超薄層厚度精確測量XPS方法”課題建立了一種能高準確度測量硅(Si)上二氧化硅(SiO2)超薄層厚度的XPS分析方法,通過參加國際關鍵比對并使等效度、方法的有效性得到了很好確認,進而成功申報國際校準與測量能力、實現(xiàn)了我國相應國家測量標準校準與測量能力的國際互認。該成果能夠較好滿足硅基器件、集成電路的制造對于二氧化硅柵氧化層厚度測量的迫切產業(yè)需求,具有良好的經濟效益。
     “中國分析測試協(xié)會科學技術獎”是分析測試領域唯一的經國家科技部批準,由國家科學技術獎勵辦公室正式登記的社會力量設獎。自1993年開始至今,該獎項已累計評選了19 次,共有538 項分析測試新技術新方法等成果獲得獎勵。 
 

 

分享到:
通知 點擊查看 點擊查看
公告 點擊查看 點擊查看
會員注冊
已有賬號,
會員登陸
完善信息
找回密碼