5月7日，美國材料研究學(xué)會(huì)(Materials Research Society，MRS)官方網(wǎng)站的“材料研究當(dāng)前新聞”(Current research news of Materials News)欄目，以“光柵刷子能清潔原子力顯微鏡的探針針尖”為題，報(bào)道了哈爾濱工業(yè)大學(xué)化工學(xué)院甘陽教授發(fā)表在Ultramicroscopy上的原創(chuàng)性研究成果(合作者為墨爾本大學(xué)的Franks教授，“Cleaning AFM colloidal probes by mechanically scrubbing with supersharp ‘brushes’”, Ultramicroscopy, Volume 109, Issue 8, July 2009, Pages 1061-1065.)。這是甘陽教授繼2009年受邀在《表面科學(xué)報(bào)告》(Surface Science Reports)上發(fā)表獨(dú)立署名特邀綜述后，又一引起國際關(guān)注的成果。

　　該報(bào)道稱：“清潔原子力顯微鏡(atomic force microscope，AFM)針尖是AFM可靠成像和力測(cè)量的關(guān)鍵。研究者現(xiàn)在發(fā)現(xiàn)，具有超尖刺突的標(biāo)定光柵作為‘刷子’，可用來機(jī)械清除AFM探針上的污染物，這是通過把探針在加大力的恒力模式下掃描刺突來實(shí)現(xiàn)。這一方法，不但能用來無損、高效地去除有機(jī)和無機(jī)污染物，而且可以實(shí)現(xiàn)污染物去除和探針研究的一步完成。此外，該方法既可用來清潔膠體/顆粒探針，也可以用來清潔標(biāo)準(zhǔn)AFM針尖?！?/P>

　　甘陽教授認(rèn)為，作為一種新型的表面污染物“定點(diǎn)”清除方法，該方法的應(yīng)用遠(yuǎn)不限于清潔原子力顯微鏡探針，更有望在廣泛的表界面研究、微電子等領(lǐng)域中得到廣泛的應(yīng)用。