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低維納米結(jié)構(gòu)分子印記與爆炸物檢測(cè)研究獲進(jìn)展

發(fā)布時(shí)間：2007-12-12 作者： 來(lái)源： 瀏覽：1160

      在國(guó)家自然科學(xué)基金委、科技部和中科院的支持下，由中科院合肥智能所研究員張忠平領(lǐng)銜的課題組，在納米結(jié)構(gòu)分子印記方法與爆炸物檢測(cè)研究方面取得了階段性進(jìn)展，已在重要國(guó)際學(xué)術(shù)期刊上發(fā)表了一系列研究論文，申請(qǐng)兩項(xiàng)國(guó)家發(fā)明專利，受到了國(guó)內(nèi)外同行的關(guān)注。最近，Sensors雜志的編輯邀請(qǐng)?jiān)撜n題組研究人員為該雜志撰寫一篇相關(guān)綜述文章。

 

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