日本科學(xué)家8日宣布，他們對反質(zhì)子質(zhì)量的測定已精確到小數(shù)點(diǎn)后10位，打破了由他們自己保持的精確到小數(shù)點(diǎn)后9位的紀(jì)錄。 　　據(jù)共同社報道，東京大學(xué)教授早野龍五等人使用獲得2005年諾貝爾物理學(xué)獎的光梳技術(shù)，先制造能精密測定頻率的激光，再用這種激光轟擊“反質(zhì)子氦”。所謂“反質(zhì)子氦”，是指用一個帶負(fù)電的反質(zhì)子置換氦原子兩個電子中的一個所得到的粒子。以“反質(zhì)子氦”的發(fā)光方式為基礎(chǔ)，就可計算出反質(zhì)子的質(zhì)量。 　　科學(xué)家說，他們用這種方法成功使反質(zhì)子的質(zhì)量測定精確到小數(shù)點(diǎn)后10位。 　　現(xiàn)有理論認(rèn)為，反質(zhì)子的質(zhì)量與質(zhì)子相同。根據(jù)本次測算結(jié)果，反質(zhì)子的質(zhì)量約為電子質(zhì)量的1836倍，在這個精度上反質(zhì)子的質(zhì)量與質(zhì)子質(zhì)量確實一致。